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減速機(jī)網(wǎng) 機(jī)械工程材料:表面分析 減速機(jī)網(wǎng)
來源:    時間:2006-9-16 14:00:55  責(zé)任編輯:qiang  

      對固體表面或界面上只有幾個原子層厚的薄層進(jìn)行組分﹑結(jié)構(gòu)和能態(tài)等分析的材料物理試驗给僵。表面分析方法有數(shù)十種﹐常用的有離子探針﹑俄歇電子能譜分析和X射線光電子能譜分析﹐其次還有離子中和譜﹑離子散射譜﹑低能電子衍射﹑電子能量損失譜﹑紫外線電子能譜等技術(shù)﹐以及場離子顯微鏡分析等。這些表面分析方法的基本原理﹐大多是以一定能量的電子﹑離子﹑光子等與固體表面相互作用﹐然后分析固體表面所放射出的電子﹑離子﹑光子等﹐從而得到有關(guān)的各種信息用牲。
         離子探針分析 又稱離子探針顯微分析瞪歹。它是利用電子光學(xué)方法將某些惰性氣體或氧的離子加速并聚焦成細(xì)小的高能離子束來轟擊試樣表面﹐使之激發(fā)和濺射出二次離子﹐用質(zhì)譜儀對具有不同質(zhì)荷比(質(zhì)量/電荷)的離子進(jìn)行分離﹐以檢測在幾個原子深度﹑數(shù)微米范圍內(nèi)的微區(qū)的全部元素﹐并可確定同位素瘾色。它的檢測靈敏度高於電子探針(見電子探針分析)﹐對超輕元素特別靈敏﹐可檢測 10-19 克的痕量元素﹐其相對靈敏度達(dá) 10-6~10-9演苍。分析速度快﹐可方便地獲得元素的平面分布圖像。還可利用離子濺射效應(yīng)分析表面下數(shù)微米深度內(nèi)的元素分布梗爸。但離子探針定量分析方法尚不成熟氧吐。
         1938年就有人進(jìn)行過離子與固體相互作用方面的研究﹐但直到60年代才開始生產(chǎn)實用的離子探針分析儀。離子探針分析儀的基本部件包括真空系統(tǒng)﹑離子源﹑一次離子聚焦光學(xué)系統(tǒng)﹑質(zhì)譜儀﹑探測和圖像顯示系統(tǒng)﹑樣品室等末盔。離子探針適用於超輕元素﹑微量和痕量元素的分析以及同位素的鑑定筑舅。廣泛應(yīng)用於金屬材料的氧化﹑腐蝕﹑擴(kuò)散﹑析出等問題的研究﹐特別是材料氫脆現(xiàn)象的研究﹐以及表面鍍層和滲層等的分析。
         俄歇電子能譜分析 用電子束 (或X射線)轟擊試樣表面﹐使其表面原子內(nèi)層能級上的電子被擊出而形成空穴﹐較高能級上的電子填補(bǔ)空穴并釋放出能量﹐這一能量再傳遞給另一電子﹐使之逸出﹐最后這個電子稱為俄歇電子陨舱。1925年法國的P.V.俄歇首先發(fā)現(xiàn)并解釋了這種二次電子﹐后來被人們稱為俄歇電子﹐但直到1967年俄歇電子能譜技術(shù)才用於研究金屬問題豁翎。通過能量分析器和檢測系統(tǒng)來檢測俄歇電子能量和強(qiáng)度﹐可獲得有關(guān)表面層化學(xué)成分的定性和定量信息﹐以及化學(xué)狀態(tài)﹑電子態(tài)等情況。在適當(dāng)?shù)膶嶒灄l件下﹐該方法對試樣無破壞作用﹐可分析試樣表面內(nèi)幾個原子層深度﹑數(shù)微米區(qū)域內(nèi)除氫和氦以外的所有元素﹐對輕元素和超輕元素很靈敏隅忿。檢測的相對靈敏度因元素而異﹐一般為萬分之一到千分之一心剥。絕對靈敏度達(dá)10-3單層(1個單層相當(dāng)於每平方厘米約有1015個原子)﹐相當(dāng)於約10-16~10-14克”惩可方便而快速地進(jìn)行點(diǎn)﹑線﹑面元素分析以及部分元素的化學(xué)狀態(tài)分析优烧。結(jié)合離子濺射技術(shù)﹐可得到元素沿深度方向的分布。

        俄歇電子能譜儀器的結(jié)構(gòu)主要包括真空系統(tǒng)﹑激發(fā)源和電子光學(xué)系統(tǒng)﹑能量分析器和檢測記錄系統(tǒng)﹑試驗室和樣品臺﹑離子槍等链峭。
         俄歇電子能譜分析在機(jī)械工業(yè)中主要用於金屬材料的氧化﹑腐蝕﹑摩擦﹑磨損和潤滑特性等的研究和合金元素及雜質(zhì)元素的擴(kuò)散或偏析﹑表面處理工藝及復(fù)合材料的黏結(jié)性等問題的研究畦娄。
         X射線光電子能譜分析 以一定能量的X射線輻照氣體分子或固體表面﹐發(fā)射出的光電子的動能與該電子原來所在的能級有關(guān)﹐記錄并分析這些光電子能量可得到元素種類﹑化學(xué)狀態(tài)和電荷分布等方面的信息。這種非破壞性分析方法﹐不僅可以分析導(dǎo)體﹑半導(dǎo)體﹐還可分析絕緣體弊仪。除氫以外所有元素都能檢測熙卡。雖然檢測靈敏度不高﹐僅達(dá)千分之一左右﹐但絕對靈敏度可達(dá)2×10-3單層。
         這種分析技術(shù)是由瑞典的K.瑟巴教授及其合作者建立起來的冠八。1954年便開始了研究﹐起初稱為化學(xué)分析用電子能譜(簡稱ESCA)﹐后普遍稱為X射線光電子能譜(簡稱XPS)选曼。主要包括﹕真空系統(tǒng)﹑X射線源﹑能量分析器和檢測記錄系統(tǒng)﹑試驗室和樣品臺等。這種分析方法已廣泛用於鑑定材料表面吸附元素種類﹐腐蝕初期和腐蝕進(jìn)行狀態(tài)時的腐蝕產(chǎn)物﹑表面沉積等﹔研究摩擦副之間的物質(zhì)轉(zhuǎn)移﹑黏著﹑磨損和潤滑特性﹔探討復(fù)合材料表面和界面特徵﹔鑑定工程塑料製品等串题。


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